Über diesen Kurs

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Stufe „Mittel“

Background in math and physics (especially in quantum mechanics and solid state physics) corresponding to the bachelor level is required.

Ca. 18 Stunden zum Abschließen
Englisch

Was Sie lernen werden

  • Giving a basic knowledge on electron and ion beam fornmation and particle-matter intetaction.

  • Giving an information on main working principles of scannig and transmission electron microscopes as well as focused ion beam systems.

  • Giving a knowledge on image formation and iterpretation in electron and ion microscopy.

  • Giving a knowledge on additional methods, which are used in electron microscopy for material analysis.

Kompetenzen, die Sie erwerben

  • Layout of the transmission electron microscope and its main working modes.
  • Main components of electron and ion microscopes
  • Energy dispersive and wavelength dispersive X-ray spectrometers
  • Scanning electron microscope layout and electron optics.
  • Sputtering with focused ion beam and its applications.
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Stufe „Mittel“

Background in math and physics (especially in quantum mechanics and solid state physics) corresponding to the bachelor level is required.

Ca. 18 Stunden zum Abschließen
Englisch

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Saint Petersburg State University

Lehrplan - Was Sie in diesem Kurs lernen werden

Woche
1

Woche 1

6 Stunden zum Abschließen

General Topics in Electron and Ion Microscopy

6 Stunden zum Abschließen
20 Videos (Gesamt 134 min), 3 Lektüren, 6 Quiz
Woche
2

Woche 2

3 Stunden zum Abschließen

Scanning Electron Microscopy

3 Stunden zum Abschließen
9 Videos (Gesamt 66 min), 1 Lektüre, 3 Quiz
Woche
3

Woche 3

4 Stunden zum Abschließen

Transmission Electron Microscopy

4 Stunden zum Abschließen
16 Videos (Gesamt 110 min), 2 Lektüren, 4 Quiz
Woche
4

Woche 4

3 Stunden zum Abschließen

Scanning Ion Microscopy and Focused Ion Beams

3 Stunden zum Abschließen
8 Videos (Gesamt 57 min), 1 Lektüre, 3 Quiz

Häufig gestellte Fragen

Haben Sie weitere Fragen? Besuchen Sie das Learner Help Center.